Z-Trak LP2C 4K系列
Z-Trak LP2C 4K 是高性能4K激光轮廓仪系列，提供4096点/profile的数据采集能力，适用于高精度三维测量和微小缺陷检测。拥有高横向分辨率、微米级重复性、支持复杂曲面测量，适用于新能源电池、半导体和精密制造领域。
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描述
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产品型号 |
最大物体高度 (mm) |
工作距离 (mm) |
物体宽度 (mm) |
激光波长 (nm) |
重复性 (±μm) |
|
Z-Trak LP2C-4K-0004-B3 |
4mm |
33.15 mm |
14.15 mm |
405nm |
0.30-0.30 μm |
|
Z-Trak LP2C-4K-0015-3B |
15mm |
32.7 mm |
30 mm |
405nm |
0.50-0.50 μm |
|
Z-Trak LP2C-4K-0030-3B |
30mm |
43.7 mm |
66 mm |
405nm |
0.60-0.80 μm |
|
Z-Trak LP2C-4K-0100-3B |
100mm |
64.5 mm |
173 mm |
405nm |
1.00-1.50 μm |
|
Z-Trak LP2C-4K-0100-3R |
100mm |
64.5 mm |
173 mm |
660nm |
1.50-2.00 μm |
|
Z-Trak LP2C-4K-0150-3B |
150mm |
135 mm |
212 mm |
405nm |
2.00-3.00 μm |
|
Z-Trak LP2C-4K-0150-3R |
150mm |
135 mm |
212 mm |
660nm |
2.00-3.00 μm |
|
Z-Trak LP2C-4K-0250-3B |
250mm |
175 mm |
305 mm |
405nm |
3.00-4.00 μm |
|
Z-Trak LP2C-4K-0250-3R |
250mm |
175 mm |
305 mm |
660nm |
3.00-4.00 μm |
|
Z-Trak LP2C-4K-0300-3B |
300mm |
195 mm |
472 mm |
405nm |
4.00-8.00 μm |
